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0304D108Z 电容型设备如耦合电容器、套管、电流互感器等，其电容屏间绝缘局部层间击穿短路后，测得的电容量Cx变大。（
- 2024-01-19 06:19:23
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0304D106Z 介质损耗因数tanδ试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。（ ）
- 2024-01-19 06:19:23
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0304D105Y 在相同条件下，测量小电容试品的tanδ和C时，用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。（ ）
- 2024-01-19 06:19:22
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0304D104Y 一个由两部分并联组成的绝缘，其整体的tanδ等于该两部分的tanδ1与tanδ2之和。（ ）
- 2024-01-19 06:19:22
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0304D103Z 对高压电容式绝缘结构的套管、互感器及耦合电容器，不仅要监测其绝缘介质损耗因数，还要监测其电容量的相对变化。（
- 2024-01-19 06:19:22
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